电脑主板检修卡_电脑故障检修卡

1.求解检测卡显示的电脑故障怎么解决

2.电脑检测卡故障代码为OE，如何维修？

3.电脑故障检测卡的数分别是哪里坏？(详细问题见描述)

4.电脑主板故障诊断卡的代码16是什么意思如何修理

1.当拿过一个主板后，我们首先会插上一个诊断卡，开机查看主板的工作状态，如果主板通电，诊断卡电源指示灯亮说明主板电源电路没问题，再触发一下复位胶针如果诊断卡复位指示灯闪烁，说明复位电路没问题，以上两点如反之 则说明主板有短路现象。

一款正准备对主板进行检测的PCI接口的主板诊断卡

2.主板通电后诊断卡代码不走动显示为00或FF侧说明主板CPU没有工作，接下来我们要切断电源摘除CPU风扇换一个好的CPU，用手按住CPU（手指与CPU之间最好用隔热的东西隔开以免烫伤）稍加力气按住开通电源，如果诊断开还是没反应且主板依旧没工作，则排出CPU底座开焊，接下来我们要确定的是CPU电路有没有故障。

首先我们应当知道这块主板的CPU供电电路的走势，一般情况下CPU供电电路都布局合理都在CPU周围不会在别的位置，因此我们还要知道CPU是红5V供电然后用黑表笔接电源红5V接口，红表笔接CPU电源四角接口（万用表调制蜂鸣当即可）此时万用表就会发出短叫声说明此处电路没问题。

然后再把黑表笔放在CPU接口针脚上，红表笔放在CPU旁边的U芯片上滑动如果有短叫声立刻停住，此时芯片上的脚针是CPU5V供电针（这个U芯片为电源管理芯片）接下来在侧CPU旁边的两对场效应管（效应管不可能两次短接用万用表测，如发现三个引脚都互相通电侧说明效应管被击穿或损坏更换即可）接下来再测CPU插座里的几个电容电阻如通电说明CPU供电电路没问题，CPU电路经常损坏的有（两对效应管，电源管理芯片，电容）。

3.主板总体检测，插上诊断卡，先加CPU，再加内存，再加独立显卡，显示代码从OO或FF开始，一次01，C1，24，25，26等开机启动。

求解检测卡显示的电脑故障怎么解决

主板检测卡，是一个硬件，和显卡一样也是一个板卡，把它插在主板的PCI或者ISA查槽上，然后接电源，卡上有显示数字的地方，通过各种数字和字母的组合就可以反映出你机器的状态，是好是坏，一目了然的，呵呵。你可以对照它的说明书上的标注来查看代码是指哪里出了问题。其实它的原理和BIOS差不多的，但是有时候电脑黑屏，或者BIOS都无效的时候，就可以通过它来逐一的排除故障所在，可以单接主板，也可以搭配接上其他硬件检测，最好是把主板 内存 显卡组成最小系统来排除就好。 还是自学好。

电脑检测卡故障代码为OE，如何维修？

计算机故障检测卡（PCI/ISA两用型）故障代码表

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代码含义速查： 请输入两位16进制的故障代码PCI/ISA两用型DEBUG卡故障代码明细表（只适用于PCI/ISA两用型及PCI单用型）

代码 Award BIOS AMI BIOS Phoenix和Tandy3000 BIOS

00 （见特殊代码意义） 已显示系统的配置;即将控制工INT19引导装入。（见特殊代码意义） （见特殊代码意义）

01 处理器测试1，处理起状态核实，如果测试失败，循环是无限的。 处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失灵。

02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。 停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。 CMOS写入/读出正在进行或者失灵。

03 清除8042键盘控制器，发出TEST-KBRD命令(AAH)。 通电延迟已完成。 ROM B10S检查部件正在进行或失灵。

04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。 键盘控制器较复位/通电测试。 可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。

05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控状态。 已确定软复位/通电；即将启动ROM。 DMA初始准备正在进行或者失灵。

06

使电路片作初始准备，停用，奇偶性，DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。使电路片作初始准备，停用，奇偶

性，DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。 已启动ROM计算ROM

BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。

07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 无意义

08 使CMOS计时器作初始准备，正常地更新计时器的循环。 已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。 核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。 第一个64K RAM测试正在进行。

0A 使接口作初始准备。 发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。 第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。

0B 测试8254通道0。 写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。 第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。

0C 测试8054通道1。 键盘控制器引脚23，24已封锁/解锁；已发出NOP命令。 第一个64K RAM的地址线故障。

0D 1.检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2.检查控制芯片已编程值是否条符合初设置。3.通道测试，如果失败，则鸣喇叭。 已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。 第一个64K RAM的奇偶性失灵。

0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读/写测试；将计算CMOS检查总和。 初始货输入/输出端口地址。

0F 测试扩展的CMOS。 已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。 无意义。

10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。 第一个64K RAM第0位故障。

11 测试DMA通道1。 COMS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。 第一个64K RAM第1位故障。

12 测试DMA页面寄存器。 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始准备。 第一个64K RAM第2位故障。

13 测试8471键盘控制器接口。 显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化/存储器自动检测。 第一个64K RAM第3位故障。

14 测试存储器更新触发电路。 电路片初始化/存储器自动检测结束；8254计时器测试即将开始。 第一个64K RAM第4位故障。

15 测试开头64K的系统存储器。 第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。 第一个64K RAM第5位故障。

16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。 第一个64K RAM第6位故障。

17 调准输入/输出工作，若装有BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束；8254第0通道即将完成测试。 第一个64K RAM第7位故障。

18 测试存储器，如果安装选用的BIOS通过，则可绕过。 第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。 第一个64K RAM第8位故障。

19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。 第一个64K RAM第9位故障。

1A 测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通/断时间。 第一个64K RAM第10位故障。

1B 测方式CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试。 第一个64K RAM第11位故障。

1C 测试COMS检查总和。 无意义。 第一个64K RAM第12位故障。

1D 调定COMS的配置。 无意义。 第一个64K RAM第13位故障。

1E 测定系统存储器的大小，并且把客观存在和COMS值比较。 无意义。 第一个64K RAM第14位故障。

1F 测试64K存储器至最高640K。 无意义。 第一个64K RAM第15位故障。

20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。 从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。

21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入/输出通道的检查）。 通过地址线测试；即将触发奇偶性。 主DMA寄存器测试正在进行或失灵。

22 测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性；将开始串行数据读/写测试。 主中断屏蔽寄存器正在进行或失灵。

23 测试保护方式8086虚似方式和8186页面方式。 基本的64K串行数据读/写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。 从属中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。

24 测定1Mb以上的扩展存储器。 矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。 设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。

25 测试除头一个64K之后的所有存储器。 完成中断矢量初始准备；将为旋转武断续开始读出8042的输入/输出端口。 装入中断矢量正在进行或失灵。

26 测试保护方式的例外情况。 读写8042的输入/输出端口；即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。 开启A20地址线；使之参入寻址。

27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。 全1数据初始准备结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。 键盘控制器测试正在进行或失灵。

28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。 完成中断矢量之后的初始准备；即将调定单色广式。 CMOS电源故障/检查总和计算正在进行。

29 无意义。 已调定单色方式，即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。

2A 使键盘控制器作初始准备。 已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。 置空64K基本内存。

2B 使磁盘驱动器和控制器作初始准备。 触发奇偶性结束；即将控制任选的ROM检查前所需的任何调节。 屏幕存储器测试正在进行或失灵。

2C 检查串行端口，并使之作初始准备。 完成ROM控制之前的处理；即将查看任选的ROM并加以控制。 屏幕初始准备正在进行或失灵。

2D 检查并行串口，并使之做初始准备。 以完成任选的ROM控制，即将进行ROM回复控制之后任何其他处理的控制。 屏幕回扫测试正在进行或失灵。

2E 使磁盘驱动器和控制器作初始准备。 使ROM控制之后的处理复原；如果没发现EGA/VGA就要进行显示存储器读写测试。 检查ROM正在进行。

2F 检测数学协处理器，并使之做初始准备。 没发现EGA/VGA；即将开始显示存储器读/写测试。 无意义。

30 建立基本内存和扩展内存。 通过显示存储器读/写测试；即将进行扫描检查。 认为屏幕是可以工作的。

31 检测从C800:0至EFFF:0的选用ROM，并使之做处世准备。 显示存储器读/写测试失败，即将进行另一种显示存储器读/写测试。 单色监视器是可以工作的。

32 对主板上的COM/LTP/FDD/声音设备等I/O芯片编程使之适合设置值。 通过另一种显示存储器读/写测试；即将进行另一种显示器扫描检查。 彩色监视器（40列）是可以工作的。

33 无意义。 显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的类型。 彩色监视器（80列）是可以工作的。

34 无意义。 已检验显示适配器；接着将调定显示方式。 记时器滴答声中断测试正在进行或失灵。

35 无意义。 完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。 停机检测正在进行或失灵。

36 无意义。 已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。 门电路中A—20失灵。

37 无意义。 识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。 保护方式中的意外中断。

38 无意义。 完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障>FFFFh。

39 无意义。 己读出保存游标位置，即将显示引用信息串。 无意义。

3A 无意义。 引用信息串显示结束；即将显示发现（ESC）信息。引用信息串显示结束；即将显示发现信息。 间隔计时器通道2测试或失灵。

3B 用OPT电路片(只是486)使超高速缓冲存储器作初始准备。 已显示发现信息：虚拟方式，存储器测试即将开始。 按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。

3C 建立允许进入CMOS设置的标志。 无意义。 串行端口测试正在进行或失灵。

3D 初女台化键盘/PS2鼠标/PNP设备及总内存节点。 无意义。 并行端口测试正在进行或失灵。

3E 尝试打开L2高速缓存。 无意义。 数学处理器测试正在进行或失灵。

3F 无意义。 无意义。 无意义。

40 无意义。 已开始准备虚拟方式的测试；即将从存储器来检验。 调整CPU速度，使之时钟精确匹配。

41 中断己打开，将初始化数据以便于0:0检测内存变换(中断控制器或内存不良)。 从存储器检验之后复原；即将准备描述符表。 系统插件板选择失灵。

42 显示窗口进入SETUP。 描述符表已准备好；即将进行虚拟方式作存储器测试。 扩展CMOS RAM故障。

43 若是即插即用BIOS，则串口，并口初始化。 进入虚拟方式；即将为诊断方式实现中断。 无意义。

44 无意义。 已实现中断(如已接通诊断开关；即将使数据作初始准备以检查存储器在0:0返转。 BIOS中断进行初始化。

45 初始化数学处理器。 数据已作初始准备；即将检查存储器在0:0返转以及找出系统存储器的规模。 无意义。

46 无意义。 测试存储器已返回；存储器大小计算完毕，即将写入页面来测试存储器。 检查只读存储器ROM版本。

47 无意义。 即将在扩展的存储器试写页面；即将基本640K存储器写入页面。 无意义。

48 无意义。 已将基本存储器写入页面；即将确定1Mb以上的存储器。 检查，CMOS重新配置。

49 无意义。 找出1Mb以下的存储器并检验；即将确定1Mb以上的存储器。 无意义。

4A 无意义。 找出1Mb以上的存储器并检验：即将检查BIOS ROM的数据区。 进行的初始化。

4B 无意义。 BIOS ROM数据区的检验结束，即将检查和为软复位清除1Mb以上的存储器。 无意义。

4C 无意义。 清除1Mb以上的存储器(软复位)即将清除1Mb以上的存储器。 屏蔽BIOS ROM。

4D 无意义。 已清除1Mb以上的存储器(软复位)；将保存存储器的大小。 无意义。

4E 若检测到有错误，在显示器上显示错误信息，并等待客户按(F1)健继续。 开始存储器的测试：(无软复位)；即将显示第一个64K存储器的测试。 显示版权信息。

4F 读写软、硬盘数据，进行DOS引导。 开始显示存储器的大小，正在测试存储器将使之更新；将进行串行和随机的存储器测试。 无意义。

50 将当前BIOS临时区内的CMOS值存到CMOS中。 完成1Mb以下的存储器测试；即将高速存储器的大小以便再定位和掩蔽。 将CPU类型和速度送到屏幕。

51 无意义。 测试1Mb以上的存储器。 无意义。

52 所有ISA只读存储器ROM进行初始化，最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。 已完成1Mb以上的存储器测试；即将准备回到实址方式。 进入键盘检测。

53 如果不是即插即用BIOS，则初始化串口、并口和设置时钟值。 保存CPU寄存器和存储器的大小，将进入实址方式。 无意义。

54 无意义。 成功地开启实址方式；即将复原准备停机时保存的寄存器。 扫描“打击键”。

55 无意义。 寄存器已复原，将停用门电路A—20的地址线。 无意义。

56 无意义。 成功地停用A—20的地址线；即将检查BIOS ROM数据区。 键盘测试结束。

57 无意义。 BIOS ROM的数据区检查了一半；继续进行。 无意义。

58 无意义。 BIOS ROM的数据区检查结束；将清除发现信息。 非设置中断测试。

59 无意义。 已清除信息；信息已显示；即将开始DMA和中断控制器的测试。 无意义。

5A 无意义。 无意义。 显示按“F2”键进行设置。

5B 无意义。 无意义。 测试基本内存地址线。

5C 无意义。 无意义。 测试640K基本内存。

5D 无意义。 无意义。 无意义。

5E 无意义。 无意义。 无意义。

5F 无意义。 无意义。 无意义。

60 设置硬盘引导扇区保护功能。 通过DMA页面寄存器的测试；即将检验存储器。 测试扩展内存。

61 显示系统配置表。 存储器检验结束；即将进行DMA#l基本寄存器的测试。 无意义。

62 开始用中断19H进行系统引导。 通过DMA#l基本寄存器的测试；即将进行DMA#2寄存器的测试。 测试扩展内存地址线。

63 无意义。 通过DMA#2基本寄存器的测试；即将检查BIOS ROM数据区。 无意义。

64 无意义。 BIOS ROM数据区检查了一半，继续进行。 无意义。

65 无意义。 BIOS ROM数据区检查结束；将把DMA装置1和2编程。 无意义。

66 无意义。 DMA装置1和2编程结束；即将使用59号中断控制器作初始准备。 Cache注册表进行优化配置。

电脑故障检测卡的数分别是哪里坏？(详细问题见描述)

显示FF或00，CPU没有工作 ATX电源损坏

CPU脚焊点因为长时间的热胀冷缩，脱焊

CPU附近的电解电容爆裂

CPU附近的功率三极管烧毁

代码：FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过

某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮，某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮，某些品牌机里的主板显示0B则表示正常，某些主板显示4E表示正常点亮，某些INTEL芯片组的主板显示26或16则表示可以正常点亮。

C1、C6、C3、01、02这个组合循环跳变大部分是I/0坏或刷BIOS

如显示05、ED、41则直接刷BIOS

一、主板检测卡各指示灯说明

BIOS灯:为BIOS运行灯、正常工作时应不停闪动

CLK灯：为时钟灯、正常为常亮

OSC灯：为基准时钟灯、正常为常亮

RESET灯：为复位灯、正常为开机瞬间闪一下，然后熄灭

RUN灯：为运行灯、工作时应不停闪动

+12V、-12V、+5V、+3.3V灯正常为常亮

二、常见代码检修

1、00、CO、CF、FF或D1

测BIOS芯片CS有无片选：

（1）、有片选：换BIOS、测BIOS的OE是否有效、测PCI的AD线、测CPU复位有无1.5V--0V跳变

（2）、无片选：测PCI的FRAME、测CPU的DBSY ADS#，如不正常则北桥坏、若帧周期信号不正常则南桥坏

2、C0

CPU插槽脏、针脚坏、接触不好

换电源、换CPU、换转接卡有时可解决问题

刷BIOS、检查BIOS座

I/O坏、北桥虚焊、南弱桥坏

PCB断线、板上粘有导电物

3、C1、C3、C6、A7或E1

内存接触不良（用镊子划内存槽）

测内存工作电压SDRAM （3.3V），DDR（2.5和1.25V）

测时钟（CLK0~CLK3）

CPU旁排阻是否损坏

测CPU地址线和数据线

测DDR的负载排阻和数据排阻

北桥坏

4、C1~05循环跳变

测32.768MHZ是否正常

BIOS损坏

I/O或南桥损坏

5、C1、C3、C6

刷BIOS、检查BIOS座

换电源、换CPU，换转接卡有时可解决问题

PCB断线、板上粘有导电物

换内存条，PC100、PC133，或速度更快更稳定的内存

换内存插槽，有些主板的内存条插槽要先插最靠里面或最靠外面的槽才可工作

目测内存槽是否有短路等机械类损坏现象

没内存的CLK0、CLK1、CLK2、CLK3、CLK4，内存主供电

打阻值检查是否有断路现象

换I/O芯片、北桥虚焊或北桥坏

6、循环显示C1-C3或C1-C5

刷BIOS

换I/O有时可解决问题、检查I/O电路

PCB断线、板上粘有导电物

换电源、换CPU、换内存

南桥坏

7、其它代码

刷BIOS

换电源、CPU、内存

检查I/O电路、换I/O芯片

PCB断线、板上粘有导电物、南桥坏

8、bO代码

测内存的数据负载电压1.25V、2.5V（DDR）

清CMOS

测北桥供电或北桥坏

9、25代码

测P核心供电4X（1.5V）、8X（0.8V）、2X（3.3V）

北桥供电、北桥坏

10、走od后不亮

测PCI插槽之间电阻和排阻

外频、倍频跳线

11、若显示Ob显示器仍不亮

换显卡，有时主板与显卡不兼容

换电源、换CPU、换内存

换显卡插槽、PCB断线、板上粘有导电物

刷BIOS

换I/O

查北桥供电或南北桥坏

查PCI、P槽附近的排阻和电容

12、显2d代码

测P的AD线

初始化INTR信号

北桥供电不正常或北桥坏

13、显2d代码后不变

刷BIOS

时钟发生器不良

清除CMOS

北桥供电不正常或北桥坏

14、显示50代码

I/O供电或I/O芯片坏

南桥供电或南桥坏

BIOS坏、北桥坏

15、显示41

刷BIOS

A18跳线

PCB断线、板上粘有导电物

I/O坏、南桥坏

错误代码：00(FF)

代码含义：主板没有正常自检

解决方法：这种故障较麻烦，原因可能是主板或CPU没有正常工作。一般遇到这种情况，可首先将电脑上除CPU外的所有部件全部取下，并检查主板电压、倍频和外频设置是否正确，然后再对CMOS进行放电处理，再开机检测故障是否排除。如故障依旧，还可将CPU从主板上的插座上取下，仔细清理插座及其周围的灰尘，然后再将CPU安装好，并加以一定的压力，保证CPU与插座接触紧密，再将散热片安装妥当，然后开机测试。如果故障依旧，则建议更换CPU测试。另外，主板BIOS损坏也可造成这种现象，必要时可刷新主板BIOS后再试。

错误代码：01

代码含义：处理器测试

解决方法：说明CPU本身没有通过测试，这时应检查CPU相关设备。如对CPU进行过超频，请将CPU的频率还原至默认频率，并检查CPU电压、外频和倍频是否设置正确。如一切正常故障依旧，则可更换CPU再试。

错误代码：C1至C5

代码含义：内存自检

解决方法：较常见的故障现象，它一般表示系统中的内存存在故障。要解决这类故障，可首先对内存实行除尘、清洁等工作再进行测试。如问题依旧，可尝试用柔软的橡皮擦清洁金手指部分，直到金手指重新出现金属光泽为止，然后清理掉内存槽里的杂物，并检查内存槽内的金属弹片是否有变形、断裂或氧化生锈现象。开机测试后如故障依旧，可更换内存再试。如有多条内存，可使用替换法查找故障所在。

错误代码：0D

代码含义：通道测试

解决方法：这也是一种较常见的故障现象，它一般表示显卡检测未通过。这时应检查显卡与主板的连接是否正常，如发现显卡松动等现象，应及时将其重新插入插槽中。如显卡与主板的接触没有问题，则可取下显卡清理其上的灰尘，并清洁显卡的金手指部份，再插到主板上测试。如故障依旧，则可更换显卡测试。

一般系统启动过0D后，就已将显示信号传输至显示器，此时显示器的指示灯变绿，然后DEBUG卡继续跳至31，显示器开始显示自检信息，这时就可通过显示器上的相关信息判断电脑故障了

错误代码：0D至0F

代码含义：CMOS停开寄存器读/写测试

解决方法：检查CMOS芯片、电池及周围电路部分，可先更换CMOS电池，再用小棉球蘸无水酒精清洗CMOS的引脚及其电路部分，然后看开机检查问题是否解决。

错误代码：12、13、2B、2C、2D、2E、2F、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、3A

代码含义：测试显卡

解决方法：该故障在AMI BIOS中较常见，可检查显卡的接口电路、主芯片、显存是否因灰尘过多而无法工作，必要时可更换显卡检查故障是否解决。

错误代码：1A、1B、20、21、22

代码含义：存储器测试

解决方法：同Award BIOS篇内存故障的解决方法。

注意事项：如在BIOS设置中设置为不提示出错，则当遇到非致命性故障时，诊断卡不会停下来显示故障代码，解决方法是在BIOS设置中设置为提示所有错误之后再开机，然后再根据DEBUG代码找到解决路径

电脑主板故障诊断卡的代码16是什么意思如何修理

电脑主板故障DEBUG代码速查表

　查表必读：（注意事项）

　1、特殊代码“00”和“FF”及其它起始码有三种情况出现：

　①已由一系列其它代码之后再出现：“00”或“FF”，则主板OK。

　②如果将CMOS中设置无错误，则不严重的故障不会影响BIOS自检的继续，而最终出现“00”或“FF”。

　③一开机就出现“00”或“FF”或其它起始代码并且不变化则为板没有运行起来。

　2、本表是按代码值从小到大排序，卡中出码顺序不定。

　3、未定义的代码表中未列出。

　4、对于不同BIOS（常用的AMI、Award、Phoenix）用同一代码所代表的意义有所不同，因此应弄清您所检测的电脑是属于哪一种类型的BIOS，您可查问你的电脑使用手册，或从主板上的BIOS芯片上直接查看，也可以在启动屏幕时直接看到。

　5、有少数主板的PCI槽只有前一部分代码出现，但ISA槽则有完整自检代码输出。且目前已发现有极个别原装机主板的ISA槽无代码输出，而PCI槽则有完整代码输出，故建议您在查看代码不成功时，将本双槽卡换到另一种插槽试一下。另外，同一块主板的不同PCI槽，有的槽有完整代码送出，如DELL810主板只有靠近CPU的一个PCI槽有完整的代码显示，一直变化到“00”或“FF”，而其它槽走到“38”则不继续变化。

　6、复位信号所需时间ISA与PCI不一定同步，故有可能ISA开始出代码，但PCI的复位灯还不熄，故PCI代码停在起始码上。

　代码 Award BIOS Ami BIOS Phoenix BIOS或Tandy 3000 BIOS

　00 . 已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。 .

　01 处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。

　02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。 CMOS写入／读出正在进行或者失灵。

　03 清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH） 通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。

　04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。键盘控制器软复位／通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。

　05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。已确定软复位／通电；即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。

　06 使电路片作初始准备，停用、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。

　07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。 .

　08 使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。

　09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。 第一个64K RAM测试正在进行。

　0A 使接口作初始准备。发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。 第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。

　0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。

　0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。 第一个64K RAN的地址线故障。

　0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、通道测试，如果失败，则鸣喇叭。已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。 第一个64K RAM的奇偶性失灵

　0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。初始化输入／输出端口地址。

　0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。 .

　10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。

　11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。 第一个64DK RAM第1位故障。

　12 测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始准备。第一个64DK RAM第2位故障。

　13 测试8741键盘控制器接口。显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。

　14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。

　15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第5位故障。

　16 建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第6位故障。

　17 调准输入／输出工作，若装有BIOS则启用。第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第7位故障。

　18 测试存储器，如果安装选用的BIOS通过，由可绕过。第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障。

　19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。 第一个64DK RAM第9位故障。

　1A 测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通／断时间。 第一个64DK RAM第10位故障。

　1B 测试CMOS电池电平。完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试。第一个64DK RAM第11位故障。

　1C 测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。

　1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。

　1E 测定系统存储器的大小，并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。

　1F 测试64K存储器至最高640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。

　20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。

　21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查）。通过地址线测试；即将触发奇偶性。主DMA寄存器测试正在进行或失灵。

　22 测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试。主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。

　23 测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。

　24 测定1MB以上的扩展存储器。矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。

　25 测试除头一个64K之后的所有存储器。完成中断矢量初始准备；将为旋转式断续开始读出8042的输入／输出端口。装入中断矢量正在进行或失灵。

　26 测试保护方式的例外情况。读出8042的输入／输出端口；即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。开启A20地址线；使之参入寻址。

　27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。全1数据初始准备结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。键盘控制器测试正在进行或失灵。

　28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。完成中断矢量之后的初始准备；即将调定单色方式。 CMOS电源故障／检查总和计算正在进行。

　29 . 已调定单色方式，即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。

　2A 使键盘控制器作初始准备。已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。置空64K基本内存。

　2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备。触发奇偶性结束；即将控制任选的ROM检查前所需的任何调节。屏幕存储器测试正在进行或失灵。

　2C 检查串行端口，并使之作初始准备。完成ROM控制之前的处理；即将查看任选的ROM并加以控制。屏幕初始准备正在进行或失灵。

　2D 检测并行端口，并使之作初始准备。已完成任选的ROM控制，即将进行ROM回复控制之后任何其他处理的控制。屏幕回扫测试正在进行或失灵。

　2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。从ROM控制之后的处理复原；如果没有发现EGA／VGA就要进行显示器存储器读／写测试。检测ROM正在进行。

　2F 检测数学协处理器，并使之作初始准备。没发现EGA／VGA；即将开始显示器存储器读／写测试。 .

　30 建立基本内存和扩展内存。通过显示器存储器读／写测试；即将进行扫描检查。认为屏幕是可以工作的。

　31 检测从C800：0至EFFF：0的选用ROM，并使之作初始准备。显示器存储器读／写测试或扫描检查失败，即将进行另一种显示器存储器读／写测试。单色监视器是可以工作的。

　32 对主板上COM／LTP／FDD／声音设备等I／O芯片编程使之适合设置值。通过另一种显示器存储器读／写测试；却将进行另一种显示器扫描检查。彩色监视器（40列）是可以工作的。

　33 . 显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。彩色监视器（80列）是可以工作的。

　34 . 已检验显示器适配器；接着将调定显示方式。计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。

　35 . 完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。停机测试正在进行或失灵。

　36 . 已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。门电路中A－20失灵。

　37 . 识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。保护方式中的意外中断。

　38 . 完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障＞FFFFH。

　39 . 已读出保存游标位置，即将显示引用信息串。 .

　3A . 引用信息串显示结束；即将显示发现信息。间隔计时器通道2测试或失灵。

　3B 用OPTI电路片（只是486）使超高速缓冲存储器作初始准备。已显示发现＜ESC＞信息；虚拟方式，存储器测试即将开始。按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。

　3C 建立允许进入CMOS设置的标志。 . 串行端口测试正在进行或失灵。

　3D 初始化键盘／PS2鼠标／PNP设备及总内存节点。 . 并行端口测试正在进行或失灵。

　3E 尝试打开L2高速缓存。 . 数学协处理器测试正在进行或失灵。

　40 . 已开始准备虚拟方式的测试；即将从存储器来检验。调整CPU速度，使之与时钟精确匹配。

　41 中断已打开，将初始化数据以便于0：0检测内存变换（中断控制器或内存不良）从存储器检验之后复原；即将准备描述符表。系统插件板选择失灵。

　42 显示窗口进入SETUP。描述符表已准备好；即将进行虚拟方式作存储器测试。 扩展CMOS RAM故障。

　43 若是即插即用BIOS，则串口、并口初始化。进入虚拟方式；即将为诊断方式实现中断。 .

　44 . 已实现中断（如已接通诊断开关；即将使数据作初始准备以检查存储器在0：0返转。） BIOS中断进行初始化。

　45 初始化数学协处理器。数据已作初始准备；即将检查存储器在0：0返转以及找出系统存储器的规模。 .

　46 . 测试存储器已返回；存储器大小计算完毕，即将写入页面来测试存储器。检查只读存储器ROM版本。

　47 . 即将在扩展的存储器试写页面；即将基本640K存储器写入页面。 .

　48 . 已将基本存储器写入页面；即将确定1MB以上的存储器。检查，CMOS重新配置。

　49 . 找出1BM以下的存储器并检验；即将确定1MB以上的存储器。 .

　4A . 找出1MB以上的存储器并检验；即将检查BIOS ROM数据区。进行的初始化。

　4B . BIOS ROM数据区的检验结束，即将检查＜ESC＞和为软复位清除1MB以上的存储器。 .

　4C . 清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器. 屏蔽BIOS ROM。.

　4D 已清除1MB以上的存储器（软复位）；将保存存储器的大小。 .

　4E 若检测到有错误；在显示器上显示错误信息，并等待客户按＜F1＞键继续。开始存储器的测试：（无软复位）；即将显示第一个64K存储器的测试。显示版权信息。

　4F 读写软、硬盘数据，进行DOS引导。开始显示存储器的大小，正在测试存储器将使之更新；将进行串行和随机的存储器测试。 .

　50 将当前BIOS监时区内的CMOS值存到CMOS中。完成1MB以下的存储器测试；即将高速存储器的大小以便再定位和掩蔽。将CPU类型和速度送到屏幕。

　51 . 测试1MB以上的存储器。 .

　52 所有ISA只读存储器ROM进行初始化，最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。已完成1MB以上的存储器测试；即将准备回到实址方式。进入键盘检测。

　53 如果不是即插即用BIOS，则初始化串口、并口和设置时种值。保存CPU寄存器和存储器的大小，将进入实址方式。 .

　54 . 成功地开启实址方式；即将复原准备停机时保存的寄存器。扫描“打击键”

　55 . 寄存器已复原，将停用门电路A－20的地址线。 .

　56 . 成功地停用A－20的地址线；即将检查BIOS ROM数据区。键盘测试结束。

　57 . BIOS ROM数据区检查了一半；继续进行。 .

　58 . BIOS ROM的数据区检查结束；将清除发现＜ESC＞信息。非设置中断测试。

　59 . 已清除＜ESC＞信息；信息已显示；即将开始DMA和中断控制器的测试。 .

　5A . . 显示按“F2”键进行设置。

　5B . . 测试基本内存地址。

　5C . . 测试640K基本内存。

　60 设置硬盘引导扇区保护功能。通过DMA页面寄存器的测试；即将检验存储器。 测试扩展内存。

　61 显示系统配置表。存储器检验结束；即将进行DMA＃1基本寄存器的测试。 .

　62 开始用中断19H进行系统引导。通过DMA＃1基本寄存器的测试；即将进行DMA＃2寄存器的测试。测试扩展内存地址线。

　63 . 通过DMA＃2基本寄存器的测试；即将检查BIOS ROM数据区。 .

　64 . BIOS ROM数据区检查了一半，继续进行。 .

　65 . BIOS ROM数据区检查结束；将把DMA装置1和2编程。 .

　66 . DMA装置1和2编程结束；即将使用59号中断控制器作初始准备。 Cache注册表进行优化配置。

　67 . 8259初始准备已结束；即将开始键盘测试。 .

　68 . . 使外部Cache和CPU内部Cache都工作。

　6A . . 测试并显示外部Cache值。

　6C . . 显示被屏蔽内容。

　6E . . 显示附属配置信息。

　70 . . 检测到的错误代码送到屏幕显示。

　72 . . 检测配置有否错误。

　74 . . 测试实时时钟。

　76 . . 扫查键盘错误。

　7A . . 锁键盘。

　7C . . 设置硬件中断矢量。

　7E . . 测试有否安装数学处理器。

　80 . 键盘测试开始，正在清除和检查有没有键卡住，即将使键盘复原。关闭可编程输入／输出设备。

　81 . 找出键盘复原的错误卡住的键；即将发出键盘控制端口的测试命令。 .

　82 . 键盘控制器接口测试结束，即将写入命令字节和使循环缓冲器作初始准备。检测和安装固定RS232接口（串口）。

　83 . 已写入命令字节，已完成全局数据的初始准备；即将检查有没有键锁住。 .

　84 . 已检查有没有锁住的键，即将检查存储器是否与CMOS失配。检测和安装固定并行口。

　85 . 已检查存储器的大小；即将显示软错误和口令或旁通安排。 .

　86 . 已检查口令；即将进行旁通安排前的编程。重新打开可编程I／O设备和检测固定I／O是否有冲突。

　87 . 完成安排前的编程；将进行CMOS安排的编程。 .

　88 . 从CMOS安排程序复原清除屏幕；即将进行后面的编程。初始化BIOS数据区。

　89 . 完成安排后的编程；即将显示通电屏幕信息。 .

　8A . 显示头一个屏幕信息。 进行扩展BIOS数据区初始化。

　8B . 显示了信息：即将屏蔽主要和BIOS。 .

　8C . 成功地屏蔽主要和BIOS，将开始CMOS后的安排任选项的编程。进行软驱控制器初始化。

　8D . 已经安排任选项编程，接着检查滑了鼠和进行初始准备。 .

　8E . 检测了滑鼠以及完成初始准备；即将把硬、软磁盘复位。 .

　8F . 软磁盘已检查，该磁碟将作初始准备，随后配备软磁碟。 .

　90 . 软磁碟配置结束；将测试硬磁碟的存在。硬盘控制器进行初始化。

　91 . 硬磁碟存在测试结束；随后配置硬磁碟。局部总线硬盘控制器初始化。

　92 . 硬磁碟配置完成；即将检查BIOS ROM的数据区。跳转到用户路径2。

　93 . BIOS ROM的数据区已检查一半；继续进行。 .

　94 . BIOS ROM的数据区检查完毕，即调定基本和扩展存储器的大小。关闭A－20地址线。

　95 . 因应滑鼠和硬磁碟47型支持而调节好存储器的大小；即将检验显示存储器。 .

　96 . 检验显示存储器后复原；即将进行C800：0任选ROM控制之前的初始准备。 “ES段”注册表清除。

　 . C800：0任选ROM控制之前的任何初始准备结束，接着进行任选ROM的检查及控制。 .

　98 . 任选ROM的控制完成；即将进行任选ROM回复控制之后所需的任何处理。查找ROM选择。

　99 . 任选ROM测试之后所需的任何初始准备结束；即将建立计时器的数据区或打印机基本地址。 .

　9A . 调定计时器和打印机基本地址后的返回操作；即调定RS－232基本地址。屏蔽ROM选择。

　9B . 在RS－232基本地址之后返回；即将进行协处理器测试之初始准备。 .

　9C . 协处理器测试之前所需初始准备结束；接着使协处理器作初始准备。建立电源节能管理。

　9D . 协处理器作好初始准备，即将进行协处理器测试之后的任何初始准备。 .

　9E . 完成协处理器之后的初始准备，将检查扩展键盘，键盘识别符，以及数字锁定。开放硬件中断。

　9F . 已检查扩展键盘，调定识别标志，数字锁接通或断开，将发出键盘识别命令。 .

　A0 . 发出键盘识别命令；即将使键盘识别标志复原。设置时间和日期。

　A1 . 键盘识别标志复原；接着进行高速缓冲存储器的测试。 .

　A2 . 高速缓冲存储器测试结束；即将显示任何软错误。检查键盘锁。

　A3 . 软错误显示完毕；即将调定键盘打击的速率。 .

　A4 . 调好键盘的打击速率，即将制订存储器的等待状态。键盘重复输入速率的初始化。

　A5 . 存储器等候状态制定完毕；接着将清除屏幕。 .

　A6 . 屏幕已清除；即将启动奇偶性和不可屏蔽中断。 .

　A7 . 已启用不可屏蔽中断和奇偶性；即将进行控制任选的ROM在E000：0之所需的任何初始准备。 .

　A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始准备结束，接着将控制E000：0之后所需的任何初始准备。清除“F2”键提示。

　A9 . 从控制E000：0 ROM返回，即将进行控制E000：0任选ROM之后所需的任何初始准备。 .

　AA . 在E000：0控制任选ROM之后的初始准备结束；即将显示系统的配置。扫描“F2”键打击。

　AC . . 进入设置.

　AE . . 清除通电自检标志。

　B0 . . 检查非关键性错误。

　B2 . . 通电自检完成准备进入操作系统引导。

　B4 . . 蜂鸣器响一声。

　B6 . . 检测密码设置（可选）。

　B8 . . 清除全部描述表。

　BC . . 清除校验检查值。

　BE 程序缺省值进入控制芯片，符合可调制二进制缺省值表。 . 清除屏幕（可选）。

　BF 测试CMOS建立值。 . 检测，提示做资料备份。

　C0 初始化高速缓存。 . 用中断19试引导。

　C1 内存自检。 . 查找引导扇区中的“55”“AA”标记。

　C3 第一个256K内存测试。 . .

　C5 从ROM内复制BIOS进行快速自检。 . .

　C6 高速缓存自检。 . .

　CA 检测Micronies超速缓冲存储器（如果存在），并使之作初始准备。 . .

　CC 关断不可屏蔽中断处理器。 . .

　EE 处理器意料不到的例外情况。 . .

　FF 给予INI19引导装入程序的控制，主板OK。

我帮你找到的:

电脑主板故障诊断卡代码大全 1

[b][size=3]00 . 已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。 .

01 处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。

02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。 CMOS写入／读出正在进行或者失灵。

03 清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH）通电延迟已完成。 ROM?BIOS检查部件正在进行或失灵。 A3x C(} ? _.m,K S

04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。键盘控制器软复位／通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。6T2v#j G,^ [6B w

F:~

05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。已确定软复位／通电；即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。

06 使电路片作初始准备，停用、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。

07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。 . F

x V)d0V

08 使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 r h9J {#? K

0A使接口作初始准备。发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。

0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。

0C测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。?A K7R1U3l7{.h,V `$\1b

0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、通道测试，如果失败，则鸣喇叭。已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵

0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。初始化输入／输出端口地址。

0F测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。 . W9@7} ` G#w

10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。n*N

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11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM第1位故障。

12 测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始准备。第一个64DK RAM第2位故障。

13 测试8741键盘控制器接口。显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。

14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。*m M B k O;a d

15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。

16 建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第6位故障。 _1B,k0S ~%k)A | z

17 调准输入／输出工作，若装有BIOS则启用。第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第7位故障。

18 测试存储器，如果安装选用的BIOS通过，由可绕过。第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。第一个64DK RAM第8位故障。8y

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19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。第一个64DK RAM第9位故障。+g.y g C t p

1A测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通／断时间。第一个64DK RAM第10位故障。

1B 测试CMOS电池电平。完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试。第一个64DK RAM第11位故障。9v O v @&? r7i9w*| h

1C测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。

1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。%H5l#C;w g k7W M

1E 测定系统存储器的大小，并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。 i;C o A i U E0v(K o

1F测试64K存储器至最高640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。

20 测量固定的8259中断位。开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。 f0| { v Q C K

21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查）。通过地址线测试；即将触发奇偶性。主DMA寄存器测试正在进行或失灵。4Z)Q H B e9u X T

22 测试8259的中断功能。结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试。主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。

23 测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。 G%pF?i o _ X9W(\

24 测定1MB以上的扩展存储器。矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。 T3W&E }? @

25 测试除头一个64K之后的所有存储器。完成中断矢量初始准备；将为旋转式断续开始读出8042的输入／输出端口。装入中断矢量正在进行或失灵。(V)Z x [ `%C

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26 测试保护方式的例外情况。读出8042的输入／输出端口；即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。开启A20地址线；使之参入寻址。*H3@d e7G p

27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。全1数据初始准备结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。键盘控制器测试正在进行或失灵。 g'l k%Q z8P h N3g?K

28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。完成中断矢量之后的初始准备；即将调定单色方式。 CMOS电源故障／检查总和计算正在进行。

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29 . 已调定单色方式，即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。 Z p:A t J2E ^ }4H @ {

2A使键盘控制器作初始准备。已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。置空64K基本内存。4M m*gX

2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备。触发奇偶性结束；即将控制任选的ROM检查前所需的任何调节。屏幕存储器测试正在进行或失灵。 JD+Z!V0m d.Q+L]+j O

2C检查串行端口，并使之作初始准备。完成ROM控制之前的处理；即将查看任选的ROM并加以控制。屏幕初始准备正在进行或失灵。

2D 检测并行端口，并使之作初始准备。已完成任选的ROM控制，即将进行ROM回复控制之后任何其他处理的控制。屏幕回扫测试正在进行或失灵。

2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。从ROM控制之后的处理复原；如果没有发现EGA／VGA就要进行显示器存储器读／写测试。检测ROM正在进行。,kf E,` K

2F检测数学协处理器，并使之作初始准备。没发现EGA／VGA；即将开始显示器存储器读／写测试。 .

30 建立基本内存和扩展内存。通过显示器存储器读／写测试；即将进行扫描检查。认为屏幕是可以工作的。

31 检测从C800：0至EFFF：0的选用ROM，并使之作初始准备。显示器存储器读／写测试或扫描检查失败，即将进行另一种显示器存储器读／写测试。单色监视器是可以工作的。

32 对主板上COM／LTP／FDD／声音设备等I／O芯片编程使之适合设置值。通过另一种显示器存储器读／写测试；却将进行另一种显示器扫描检查。彩色监视器（40列）是可以工作的。

33 . 显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。彩色监视器（80列）是可以工作的。

34 . 已检验显示器适配器；接着将调定显示方式。计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。3k Q Z+R F6D:I&K a \

35 . 完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。停机测试正在进行或失灵。A;y ]-];O'z"t8l F&q6v

36 . 已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。门电路中A－20失灵。"w c a;? E \ r G

37 . 识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。保护方式中的意外中断。

38 . 完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障＞FFFFH。

39 . 已读出保存游标位置，即将显示引用信息串。 .

3A . 引用信息串显示结束；即将显示发现<ESC>信息。间隔计时器通道2测试或失灵。?\5q%M4K m ^] | r

3B 用OPTI电路片（只是486）使超高速缓冲存储器作初始准备。已显示发现＜ESC＞信息；虚拟方式，存储器测试即将开始。按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。

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3C建立允许进入CMOS设置的标志。 . 串行端口测试正在进行或失灵。

3D 初始化键盘／PS2鼠标／PNP设备及总内存节点。 . 并行端口测试正在进行或失灵。+v;\"I lg3T8q+e4F'o

3E 尝试打开L2高速缓存。 . 数学协处理器测试正在进行或失灵。9Y C z { s5M D5e,m Z

40 . 已开始准备虚拟方式的测试；即将从存储器来检验。调整CPU速度，使之与时钟精确匹配。 [0T m)k m b u w

41 中断已打开，将初始化数据以便于0：0检测内存变换（中断控制器或内存不良）从存储器检验之后复原；即将准备描述符表。系统插件板选择失灵。 t B ?7p X3P

42 显示窗口进入SETUP。描述符表已准备好；即将进行虚拟方式作存储器测试。扩展CMOS RAM故障。

43 若是即插即用BIOS，则串口、并口初始化。进入虚拟方式；即将为诊断方式实现中断。 . n*D L `"~

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44 . 已实现中断（如已接通诊断开关；即将使数据作初始准备以检查存储器在0：0返转。） BIOS中断进行初始化。

45 初始化数学协处理器。数据已作初始准备；即将检查存储器在0：0返转以及找出系统存储器的规模。 . +{ X VX5m?Y c4r

46 . 测试存储器已返回；存储器大小计算完毕，即将写入页面来测试存储器。检查只读存储器ROM版本。)e B _ m0C$p

47 . 即将在扩展的存储器试写页面；即将基本640K存储器写入页面。 . G J7l y:k.G c

48 . 已将基本存储器写入页面；即将确定1MB以上的存储器。检查，CMOS重新配置。

49 . 找出1BM以下的存储器并检验；即将确定1MB以上的存储器。 .

4A . 找出1MB以上的存储器并检验；即将检查BIOS ROM数据区。进行的初始化。

4B . BIOS ROM数据区的检验结束，即将检查＜ESC＞和为软复位清除1MB以上的存储器。 .

4C . 清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器. 屏蔽BIOS ROM。. 8O

c)g8\3L'p

4D?已清除1MB以上的存储器（软复位）；将保存存储器的大小。 .

4E 若检测到有错误；在显示器上显示错误信息，并等待客户按＜F1＞键继续。开始存储器的测试：（无软复位）；即将显示第一个64K存储器的测试。显示版权信息。@ @(F `#? l F

4F读写软、硬盘数据，进行DOS引导。开始显示存储器的大小，正在测试存储器将使之更新；将进行串行和随机的存储器测试。 .

50 将当前BIOS监时区内的CMOS值存到CMOS中。完成1MB以下的存储器测试；即将高速存储器的大小以便再定位和掩蔽。将CPU类型和速度送到屏幕。

51 . 测试1MB以上的存储器。 .

52 所有ISA只读存储器ROM进行初始化，最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。已完成1MB以上的存储器测试；即将准备回到实址方式。进入键盘检测。-o O h h2x k"l j

53 如果不是即插即用BIOS，则初始化串口、并口和设置时种值。保存CPU寄存器和存储器的大小，将进入实址方式。 . +Rw

e N N ?

54 . 成功地开启实址方式；即将复原准备停机时保存的寄存器。扫描“打击键” x.a z s:U W,b n

55 . 寄存器已复原，将停用门电路A－20的地址线。 . ,C;@ c*y ] K2Z W H ` U

56 . 成功地停用A－20的地址线；即将检查BIOS ROM数据区。键盘测试结束。 e j;Q*d Z ~%o#K1O

57 . BIOS ROM数据区检查了一半；继续进行。 .

58 . BIOS ROM的数据区检查结束；将清除发现＜ESC＞信息。非设置中断测试。

59 . 已清除＜ESC＞信息；信息已显示；即将开始DMA和中断控制器的测试。 . ;e X C r!M O

I f

5A . . 显示按“F2”键进行设置。

5B . . 测试基本内存地址。;x _ o c)Y;j;C C

5C . . 测试640K基本内存。'e0h q x2B a

60 设置硬盘引导扇区保护功能。通过DMA页面寄存器的测试；即将检验存储器。测试扩展内存。

61 显示系统配置表。存储器检验结束；即将进行DMA＃1基本寄存器的测试。 .

62 开始用中断19H进行系统引导。通过DMA＃1基本寄存器的测试；即将进行DMA＃2寄存器的测试。测试扩展内存地址线。8cu)I/f4O l y w3h

63 . 通过DMA＃2基本寄存器的测试；即将检查BIOS ROM数据区。 .

64 . BIOS ROM数据区检查了一半，继续进行。 .

65 . BIOS ROM数据区检查结束；将把DMA装置1和2编程。 . :a A E#F&D2a

66 . DMA装置1和2编程结束；即将使用59号中断控制器作初始准备。 Cache注册表进行优化配置。

67 . 8259初始准备已结束；即将开始键盘测试。 .

68 . . 使外部Cache和CPU内部Cache都工作。 R:L%\ `"u K$n:? z3Q Q-S m u

6A . . 测试并显示外部Cache值。

].y1J o c _ b4i G;Z

6C . . 显示被屏蔽内容。'Y#t)b#W-C

6E . . 显示附属配置信息。W3\-{ b&X j0u

70 . . 检测到的错误代码送到屏幕显示。

72 . . 检测配置有否错误。

74 . . 测试实时时钟。

76 . . 扫查键盘错误。 Y F y s F0d

7A . . 锁键盘。 n0l,@(Q,E L l:X

7C . . 设置硬件中断矢量。

7E . . 测试有否安装数学处理器。 m(H4b.E a6O S?C

80 . 键盘测试开始，正在清除和检查有没有键卡住，即将使键盘复原。关闭可编程输入／输出设备。

81 . 找出键盘复原的错误卡住的键；即将发出键盘控制端口的测试命令。 . U)],P } m#c7u.D

82 . 键盘控制器接口测试结束，即将写入命令字节和使循环缓冲器作初始准备。检测和安装固定RS232接口（串口）。

83 . 已写入命令字节，已完成全局数据的初始准备；即将检查有没有键锁住。 . 5h @'i'J-S ] o ^

84 . 已检查有没有锁住的键，即将检查存储器是否与CMOS失配。检测和安装固定并行口。

85 . 已检查存储器的大小；即将显示软错误和口令或旁通安排。 . 4Q Q v V \

86 . 已检查口令；即将进行旁通安排前的编程。重新打开可编程I／O设备和检测固定I／O是否有冲突。7S9m?U y.I p7} C+w

87 . 完成安排前的编程；将进行CMOS安排的编程。 . 2t$Wz#\6a+q G P N J

88 . 从CMOS安排程序复原清除屏幕；即将进行后面的编程。初始化BIOS数据区。5[ ~3t | F"C { ] I

Q

89 . 完成安排后的编程；即将显示通电屏幕信息。 . 0n ? n9Z ^ a

8A . 显示头一个屏幕信息。进行扩展BIOS数据区初始化。

8B . 显示了信息：即将屏蔽主要和BIOS。 .

8C . 成功地屏蔽主要和BIOS，将开始CMOS后的安排任选项的编程。进行软驱控制器初始化。

8D . 已经安排任选项编程，接着检查滑了鼠和进行初始准备。 . H-W$P b q

8E . 检测了滑鼠以及完成初始准备；即将把硬、软磁盘复位。 . om A L)W Z f k

8F . 软磁盘已检查，该磁碟将作初始准备，随后配备软磁碟。 .

90 . 软磁碟配置结束；将测试硬磁碟的存在。硬盘控制器进行初始化。

91 . 硬磁碟存在测试结束；随后配置硬磁碟。局部总线硬盘控制器初始化。

92 . 硬磁碟配置完成；即将检查BIOS ROM的数据区。跳转到用户路径2。

93 . BIOS ROM的数据区已检查一半；继续进行。 .

94 . BIOS ROM的数据区检查完毕，即调定基本和扩展存储器的大小。关闭A－20地址线。

95 . 因应滑鼠和硬磁碟47型支持而调节好存储器的大小；即将检验显示存储器。 . "G | j d;y ` x.b

96 . 检验显示存储器后复原；即将进行C800：0任选ROM控制之前的初始准备。“ES段”注册表清除。 r z m U L&?6H

. C800：0任选ROM控制之前的任何初始准备结束，接着进行任选ROM的检查及控制。 . P }

[ { c'?8n

V

b

98 . 任选ROM的控制完成；即将进行任选ROM回复控制之后所需的任何处理。查找ROM选择。 q S.n Q6D \

G

99 . 任选ROM测试之后所需的任何初始准备结束；即将建立计时器的数据区或打印机基本地址。 . *kp*b?b g

g n

9A . 调定计时器和打印机基本地址后的返回操作；即调定RS－232基本地址。屏蔽ROM选择。 N'[ L7Y*Q0e%e

9B . 在RS－232基本地址之后返回；即将进行协处理器测试之初始准备。 .

9C . 协处理器测试之前所需初始准备结束；接着使协处理器作初始准备。建立电源节能管理。.e6h6c8C9q*f

9D . 协处理器作好初始准备，即将进行协处理器测试之后的任何初始准备。 . "`0W0Z"q4p2K9t s `"d

9E . 完成协处理器之后的初始准备，将检查扩展键盘，键盘识别符，以及数字锁定。开放硬件中断。

9F . 已检查扩展键盘，调定识别标志，数字锁接通或断开，将发出键盘识别命令。 . C ~?L V$I&s h;K3U

A0 . 发出键盘识别命令；即将使键盘识别标志复原。设置时间和日期。 r,G f&G"t%e.R(E H

A1 . 键盘识别标志复原；接着进行高速缓冲存储器的测试。 . 6H r P8x8I2S f

A2 . 高速缓冲存储器测试结束；即将显示任何软错误。检查键盘锁。j(Kx G Q J/L^

A3 . 软错误显示完毕；即将调定键盘打击的速率。 . U W!z S%\ g&A&d c ] A

A4 . 调好键盘的打击速率，即将制订存储器的等待状态。键盘重复输入速率的初始化。 ] FB { J*M%@ |+q m7z u

A5 . 存储器等候状态制定完毕；接着将清除屏幕。 . +n v _ I^ n j"e

y b l M ]

A6 . 屏幕已清除；即将启动奇偶性和不可屏蔽中断。 .

A7 . 已启用不可屏蔽中断和奇偶性；即将进行控制任选的ROM在E000：0之所需的任何初始准备。 .

A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始准备结束，接着将控制E000：0之后所需的任何初始准备。清除“F2”键提示。

A9 . 从控制E000：0 ROM返回，即将进行控制E000：0任选ROM之后所需的任何初始准备。 . 6F a*T k,L u t

AA . 在E000：0控制任选ROM之后的初始准备结束；即将显示系统的配置。扫描“F2”键打击。

AC . . 进入设置.

AE . . 清除通电自检标志。

B0 . . 检查非关键性错误。

B2 . . 通电自检完成准备进入操作系统引导。 m X L!k C1f6x V

B4 . . 蜂鸣器响一声。 p Z ] [7F"J S G

B6 . . 检测密码设置（可选）。p V*E Y C

B8 . . 清除全部描述表。

BC . . 清除校验检查值。

BE 程序缺省值进入控制芯片，符合可调制二进制缺省值表。 . 清除屏幕（可选）。8R*x.}8S M }:qO3h \

BF 测试CMOS建立值。 . 检测，提示做资料备份。

C0 初始化高速缓存。 . 用中断19试引导。 k,m5G A V f a

C1 内存自检。 . 查找引导扇区中的“55”“AA”标记。

C3 第一个256K内存测试。 . .

C5 从ROM内复制BIOS进行快速自检。 . . 'N Q

m k#u(P3N'v

C6 高速缓存自检。 . .

CA 检测Micronies超速缓冲存储器（如果存在），并使之作初始准备。 . . ,b O } s"v+L b l

CC 关断不可屏蔽中断处理器。 . .

EE 处理器意料不到的例外情况。 . .

FF 给予INI19引导装入程序的控制，主板OK[/size][/b]